[email protected]
Răspundem în 24 de ore
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299.00 lei
Packeta 15.00 lei
Cargus 25.00 lei
FAN 25.00 lei
Easybox 20.00 lei
Contact
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15.00 lei
Cargus 25.00 lei
FAN 25.00 lei
Easybox 20.00 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299.00 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
[email protected]
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maxim...
Descrierea completă
Codul Libristo: 07184089
?
304 b
304 b
602.34
lei
În depozitul extern în cantități mici
Expediem în 13-16 zile
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.
Informații despre carte
Titlu complet
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Autor
Leendert M. Huisman
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2005
Număr pagini
250
EAN
9780387249933
ISBN
9780387249933
Codul Libristo
07184089
Editura
Springer-Verlag New York Inc.
Greutatea
576
Dimensiuni
155 x 235 x 19
