[email protected]
Răspundem în 24 de ore
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299.00 lei
Packeta 15.00 lei
Cargus 25.00 lei
FAN 25.00 lei
Easybox 20.00 lei
Contact
Cum să cumpăr
Ajutor
Livrare
Packeta 15.00 lei
Cargus 25.00 lei
FAN 25.00 lei
Easybox 20.00 lei
Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299.00 lei
Consilier de cumpărături
Suntem aici pentru tine!
[email protected]
Contul meu
Faceți parte dintr-o comunitate de iubitori de cărți din întreaga lume și beneficiați de o mulțime de avantaje
Creați-vă un cont gratuit
▸
Gol :-(
0
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Limba
engleză
engleză
Carte
Copertă tare
This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers...
Descrierea completă
Codul Libristo: 01391053
?
387 b
387 b
766.92
lei
șansă 50%
Şanse de a obține acest titlu
Când primesc cărțile?
30 de zile pentru retur bunuri
Ar putea de asemenea, să te intereseze
/
Copertă tare
1 027.18
lei
/
Carte broșată
180.83
lei
This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry s characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.
Informații despre carte
Titlu complet
Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Limba
engleză
engleză
Legare
Carte - Copertă tare
Data publicării
2007
Număr pagini
578
EAN
9780735404410
Codul Libristo
01391053
Editura
Springer, Berlin
Greutatea
1586
Dimensiuni
216 x 279 x 41
