Transport gratuit la punctele de livrare Pick Up peste 299.00 lei
Packeta 15.00 lei Cargus 25.00 lei FAN 25.00 lei Easybox 20.00 lei

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

Limba englezăengleză
Carte Copertă tare
Carte Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Codul Libristo: 14496617
Editura Pan Stanford Publishing Pte Ltd, octombrie 2016
? points 1225 b
2 429.76 lei
șansă 50% Şanse de a obține acest titlu Când primesc cărțile?

30 de zile pentru retur bunuri


Ar putea de asemenea, să te intereseze


From Beatings to Blessings Patricia Turnage / Carte broșată
common.buy 54.48 lei
Die Einsamkeit des Schwimmers Pape / Audio CD
common.buy 83.24 lei
Partial Values Kevin DeLapp / Copertă tare
common.buy 391.13 lei

Informații despre carte

Titlu complet Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Limba engleză
Legare Carte - Copertă tare
Data publicării 2016
Număr pagini 1454
EAN 9789814745086
ISBN 9789814745086
Codul Libristo 14496617
Greutatea 1900
Dimensiuni 236 x 163 x 54
Dăruiește această carte chiar astăzi
Este foarte ușor
1 Adaugă cartea în coș și selectează Livrează ca un cadou 2 Îți vom trimite un voucher în schimb 3 Cartea va ajunge direct la adresa destinatarului

Logare

Conectare la contul de utilizator Încă nu ai un cont Libristo? Crează acum!

 
obligatoriu
obligatoriu

Nu ai un cont? Beneficii cu contul Libristo!

Datorită contului Libristo, vei avea totul sub control.

Creare cont Libristo