Nu se pretează? Nu contează! La noi puteți returna bunurile în 30 de zile
Cu un voucher cadou nu veți da greș. În schimbul voucherului, destinatarul își poate alege orice din oferta noastră.
30 de zile pentru retur bunuri
Monografiya yavlyaetsya pervym i poka edinstvennym na russkom yazyke sistematicheskim izlozheniem odnogo iz naibolee vostrebovannykh napravleniy strukturnogo testirovaniya v sovremennoy elektronike tekhnologiy granichnogo skanirovaniya (JTAG) i testoprigodnogo proektirovaniya (DFT), a takzhe vnutriskhemnogo testirovaniya (ICT), i v ravnoy stepeni mozhet sluzhit' kak uchebnikom dlya studentov i prepodavateley inzhenernykh, elektronnykh i komp'yuternykh spetsial'nostey universitetov i kolledzhey s prepodavaniem sootvetstvuyushchikh kursov, tak i spravochnikom dlya inzhenerov i tekhnikov, rabotayushchikh v promyshlennosti vysokikh tekhnologiy. Kniga okhvatyvaet vvedenie v standarty tsifrovogo IEEE (1149.1) i analogovogo (1149.4) granichnogo skanirovaniya, rasshirenie etogo standarta na differentsial'nye LVDS-tsepi (1149.6), novyy dvukhkontaktnyy JTAG standart 1149.7, vnutriskhemnoe konfigurirovanie PLM i FPGA, struktury SnK i noveyshiy standart testoprigodnogo proektirovaniya mikroskhem R1687. V knige sdelan obzor naibolee rasprostranennykh programmno-apparatnykh sredstv podderzhki tekhnologii JTAG (ProVision, onTAP, ScanExpress, ScanWorks, XJTAG) i privedeno mnozhestvo primerov, a takzhe vvedenie vo vnutriskhemnoe testirovanie ICT.